SMU-2010-MS 测量显微镜结合了金相显微镜的高倍观察能力,和影像测量仪的 X、Y、Z 轴表面尺寸测量功能,具备明暗场、微分干涉、偏光等观察功能。可应用于半导体、PCB、LCD、手机产业链、光通讯、基础电子、模具五金、医疗器械、汽车行业、计量行业等领域的检测。
SMU-2010-MS 测量显微镜采用远光学系统搭配半复消色差物镜,提高了成像衬度和清晰度,用户可以得到鲜明、清晰的高对比度图像。只需简单操作即可实现明暗场,偏光,微分干涉等多种成像方式。
人体工学设计实现舒适操作性
MS努力让工具尽量适合人体的自然形态,这样在使用工具的过程中,减少使用工具造成的疲劳。
精密的测量工具保证结果的准确性
测量工具的严谨恰好体现了品牌的品质。随着现代制造技术日益小型化和精密化,高精度测量也日趋重要。MS 测量显微镜采用 0.1μm 读数的3 轴测量系统,利用 X、Y 轴高精度光栅尺可进行水平方向测量,电动 Z 轴调焦可操作性强,降低疲劳。
独立裂像光源对焦
独立的裂像光源控制器,可根据样品不同背景进行光源亮度调节,清晰准确显示焦面。有两种裂像图案可供选择,并随意切换。
*测量软件
MS 测量显微镜配备了操作简单,功能强大的测量软件,客户可根据需要设置测试偏好。即使对复杂的形状,也可以进行高精度的测量。